特許

J-GLOBAL ID：200903009326017046

有機ELディスプレイの評価装置および評価方法

発明者： 奈良 彰治 ,  伊藤 正敏 ,  大熊 誠 ,  印南 智治
出願人/特許権者： ウインテスト株式会社
代理人 (1件)： 池澤 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-229519
公開番号（公開出願番号）：特開2002-040074
出願日： 2000年07月28日
公開日（公表日）： 2002年02月06日
要約：

【要約】【課題】 有機ELディスプレイ10の簡単な検査用駆動回路を準備し、信頼性の高い評価を実現し、有機ELディスプレイ10に製品用の駆動回路を組み込む前に有機ELディスプレイ10自体の評価を行って、評価結果による不良品の処理による歩留まりの低下を抑制することができる有機ELディスプレイの評価装置および評価方法を提供すること。【解決手段】 一画素11への駆動電流の供給後に、一画素11が放電する時間をあけて次の一画素11の駆動(検査)を行うこと、一画素11における有機EL画素14の駆動電流値と放電電流値との差が所定レベル内であれば、それぞれの有機EL素子1による画素が正常であると判定可能であることに着目したもので、有機EL素子1による一画素11ごとに駆動電流値および放電電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

画素として有機EL素子を有する有機ELディスプレイの評価装置であって、前記有機EL素子による一画素ごとに駆動電流値および放電電流値を測定するとともに、その電流値の差を検出することにより画素欠陥を検出することを特徴とする有機ELディスプレイの評価装置。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G09F 9/00 352 ,  H05B 33/12 ,  H05B 33/14

FI (4件)：

G01R 31/00 ,  G09F 9/00 352 ,  H05B 33/12 Z ,  H05B 33/14 A

Fターム (16件)：

2G036AA26 ,  2G036BA32 ,  2G036BB21 ,  3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007CA01 ,  3K007CB01 ,  3K007DA01 ,  3K007DB03 ,  3K007EB00 ,  3K007GA00 ,  5G435AA17 ,  5G435BB05 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10