特許
J-GLOBAL ID：200903009333656631
時間分解蛍光励起スペクトル測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-344738
公開番号（公開出願番号）：特開平6-194312
出願日： 1992年12月24日
公開日（公表日）： 1994年07月15日
要約：
【要約】【目的】半導体材料のバンドギャップ近傍からバンドギャップより高いエネルギー領域にわたる蛍光励起スペクトルの時間分解測定装置を提供する。【構成】 試料励起光により半導体材料16から放出される蛍光と、ゲートパルス光の交差相関光の励起スペクトルを連続発振光の連続波長スキャンにより測定し、任意の時刻に設定して再び交差相関光の励起スペクトルの測定を行うことを繰り返すことで、蛍光励起スペクトルの時間変化を測定する信号解析装置14を具備する。
請求項（抜粋）：
光パルス照射により発生する被測定半導体材料からの蛍光と、ゲートパルス光の交差相関光を非線形光学結晶中における非線形光学効果により発生させ、その強度の時間変化の測定を行う時間分解蛍光測定装置と、波長を連続的に変化させることのできる連続発振光源と、前記交差相関光の強度の時間変化、連続発振光源の波長変化、及び、それらに同期して交差相関光を自動制御するための制御器とを具備し、試料励起光により半導体材料から放出される蛍光と、ゲートパルス光の交差相関光の励起スペクトルを連続発振光の連続波長スキャンにより測定し、任意の時刻に設定して再び交差相関光の励起スペクトルの測定を行うことを繰り返すことで、蛍光励起スペクトルの時間変化を測定するようにしたことを特徴とする時間分解蛍光励起スペクトル測定装置。
IPC (2件)：
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