特許
J-GLOBAL ID：200903009361805200
MALDI-TOFターゲットとして適した導電カード
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 義雄 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-011129
公開番号（公開出願番号）：特開2003-043014
出願日： 2002年01月21日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 サンプルのMALDI TOF質量分析において最も高い分解能を与える。また、低コストで使い捨て可能な質量分析のためのサンプル供給装置を提供し、さらに、非金属で且つ適度な導電性を有するMALDI飛行時間型サンプル供給装置を提供する。【解決手段】 質量分析、好ましくはMALDI飛行時間型質量分析のためのサンプル供給装置。本発明のサンプル供給装置は、表面導電性を有する材料から成る。サンプル供給装置の表面には、様々な方法で導電性を与えることができる。サンプル供給装置は、サンプルを供給するために(通常、サンプル分子の脱離および電離を促進するためのマトリクスと共に)、スペクトロメータ内、例えばスペクトロメータチューブ内に挿脱自在に挿入できるようになっている。
請求項（抜粋）：
マトリクスアシストレーザ脱離/電離飛行時間型質量分析法によってサンプルを分析するためのサンプル供給装置において、前記装置が導電性が付与される平坦な表面を有する基板を備え、前記平坦な表面上の抵抗が1平方インチ当たり約1500オームよりも小さいサンプル供給装置。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/04
G01N 27/62 F
, G01N 27/62 K
, G01N 27/64 B
, H01J 49/04
