特許
J-GLOBAL ID：200903009380408743
レーダシステム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
葛和 清司 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-522743
公開番号（公開出願番号）：特表2001-506011
出願日： 1998年10月16日
公開日（公表日）： 2001年05月08日
要約：
【要約】漏れ校正及び除去のシステム及び方法がレーダシステム(10)における標本抽出された下方変換レーダシステムの各ビーム位置の漏れ信号の複合同相かつ直角位相(I/Q)成分を予測する。デジタル形式の態様では、記憶漏れ校正信号(264)が標本抽出されたレーダ信号から減算され、かつ合成信号が処理(208、210、212)されてターゲットを検出する。漏れ信号試験(214)が十分な数の連続走査(216)に対する問題を表示する場合に、漏れ校正プロセス(250)が駆動され、各ビーム位置について、M個の連続I/Q波形が平均される(252)既知ターゲットが除去され(254、256、258)かつ生じた信号が基準化(262)かつ記憶される、新規の漏れ信号(364)がアナログ形式(366)に変換され、アナログ形式の下方変換されたレーダ信号(300)から減算され、複合I/Q成分がそこから(302、304)標本抽出される前に、かつ可変利得(303)によって基準化される。
請求項（抜粋）：
持続波レーダシステムの漏れ除去方法であって、a.下方変換レーダリターン信号の同相かつ直角位相成分であって、各前記成分が周波数の繰返しシーケンスを含む関連波形を有する同相かつ直角位相成分を標本抽出するステップと:b.記憶された漏れ信号の同相かつ直角位相成分を減算して合成信号を形成するステップと;c.合成信号からの少なくとも1つの第1測定値を対応する少なくとも1つの第1しきい値と比較するステップと:d.少なくとも1つの第1測定値がレーダリターン信号のN個の連続サンプルの内のm個に対して対応する少なくとも1つの第1しきい値を超過する場合に漏れ校正を行うステップを含み、該漏れ校正がi)下方変換レーダリターン信号の連続する同相波形の実行平均値を、繰返しシーケンスのそれぞれの要素を連続繰返しシーケンス全体にわたって、平均することにより計算して、関連平均化同相波形を発生すること;ii)下方変換レーダリターン信号の連続する直角位相波形の実行平均値を繰返しシーケンスのそれぞれの要素を連続繰返しシーケンス全体にわたって、平均することにより計算して、関連平均直角位相波形を発生し、該同相波形及び該直角位相波形が平均漏れ信号を構成すること;iii)平均漏れ信号に関連する少なくとも1つの分散波形を計算すること;iv)少なくとも1つの分散波形の少なくとも1つの第2測定値を対応する少なくとも1つの第2しきい値と比較すること;v)少なくとも1つの分散波形の少なくとも1つの第2測定値が対応する少なくとも1つの第2しきい値未満である場合には、平均漏れ信号を記憶漏れ信号として記憶すること;を含む、前記方法。
IPC (4件)：
G01S 13/34
, G01S 7/292
, G01S 7/40
, G01S 13/93
G01S 13/34
, G01S 7/292 A
, G01S 7/40 C
, G01S 13/93 Z
