特許

J-GLOBAL ID：200903009386199437

ガス成分濃度測定装置

発明者： 溝口 朝道 ,  高見 雅之 ,  長谷川 純 ,  山下 幸宏
出願人/特許権者： 株式会社デンソー
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-358524
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183431
出願日： 1997年12月25日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】センサの昇温特性を良好に維持し、且つ素子割れなどの不具合を抑制する。【解決手段】A/Fセンサ30のセンサ素子部60は、固体電解質とヒータ64とを積層し、それらを一体化して構成される。A/Fセンサ30は、電圧の印加に伴い排ガス中の酸素濃度に比例したリニアなA/F検出信号を出力する。マイコン20は、ヒータ制御回路25を介してヒータ64を加熱させ、それによりセンサ素子部60(固体電解質)を所定の活性温度に保持する。この場合、マイコン20は、センサ素子部60への印加電圧とそれに伴って流れるセンサ電流とに基づいて素子抵抗を検出すると共に、その素子抵抗を素子温に換算する。そして、A/Fセンサ30の昇温時において、素子温変化速度(センサ素子部60の昇温率)に応じてヒータ通電量をデューティ制御する。

請求項（抜粋）：

固体電解質を用いたセンサ素子を有し、被測定ガスの特定成分濃度を測定するセンサと、電源電圧の通電により発熱し、前記センサ素子を所定の活性温度に加熱するためのヒータと、前記センサ素子の昇温率に応じて前記ヒータへの通電量を制御するヒータ制御手段とを備えることを特徴とするガス成分濃度測定装置。

IPC (4件)：

G01N 27/41 ,  F02D 41/14 310 ,  F02D 45/00 368 ,  G01N 27/409

FI (4件)：

G01N 27/46 325 Q ,  F02D 41/14 310 E ,  F02D 45/00 368 F ,  G01N 27/58 B

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平4-218759