特許
J-GLOBAL ID：200903009409529570
プリント基板の検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-198382
公開番号（公開出願番号）：特開平6-045799
出願日： 1992年07月24日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：
【要約】【目的】 外観の異なる同一部品が混在して使用される場合でも、プリント基板上の部品の有無や位置を正確に検出して正確な外観検査を行うことができるプリント基板の検査装置を提供することを目的としている。【構成】 プリント基板上に実装される機能が同一で外観が異なる部品の赤、緑、青ごとの特徴情報を予め記憶しておき、この特徴情報と実際に撮像したプリント基板上の部品を含む表面部分の赤、緑、青ごとのディジタル画像情報とを比較して外観検査を行っている。
請求項（抜粋）：
部品が実装されたプリント基板の外観検査を行うプリント基板の検査装置において、前記プリント基板上の前記部品を含む表面部分をカラー撮像する撮像手段と、この撮像手段より出力されたカラー映像信号を赤、緑、青ごとの各色相成分に分離する分離手段と、この分離手段により分離された赤、緑、青ごとのカラー映像信号をそれぞれ多値のディジタル画像情報に変換する変換手段と、前記プリント基板上に実装される機能が同一で外観が異なる部品の赤、緑、青ごとの特徴情報を予め記憶する記憶手段と、前記変換手段により変換されたディジタル画像情報と前記記憶手段により記憶されている特徴情報とを前記外観が異なる部品ごとに比較して前記プリント基板上に実装された部品の有無や部品の位置を検出する手段とを具備することを特徴とするプリント基板の検査装置。
IPC (2件)：
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