特許
J-GLOBAL ID：200903009448722611
光距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-169389
公開番号（公開出願番号）：特開平9-021616
出願日： 1995年07月05日
公開日（公表日）： 1997年01月21日
要約：
【要約】【目的】反射光の遅れ時間を光フーリェ変換作用を利用して光の集光位置に変換し、安定にしかも高速に時間測定を行い、分解能の良い光距離測定装置を実現する。【構成】パルス状の光B2及び反射光B4は受光器 6により電気信号 Eに変換され、音響光学素子 8に入射された平行光PLが電気信号 Eにより変調され、フーリェ変換作用により回折した平行光がレンズ 9により光位置検出器10の受光部に集光される。この場合、光の集光位置が反射光B4の遅れ時間に対応した位置に集光し、光の位置の検出により遅れ時間を検出し、距離L1を測定することができる。又、偏向器 3により光ビームB3の走査を行うことで測定対象物 5の二次元或いは三次元の形状を測定することができる。又、校正演算部11により距離校正板 4からの反射光の測定データを基に検出距離の自動校正を行う。
請求項（抜粋）：
パルス状の光を繰り返して発生するパルス光源と、前記パルス状の光を測定対象物に照射しその反射光を受光器に導くビームスプリッタと、前記パルス状の光及び反射光を電気信号に変換する受光器と、平行光が入射され前記電気信号により変調する音響光学素子と、この音響光学素子によって回折した光を集光するレンズと、集光された光の位置を検出する光位置検出器とからなり、パルス光が測定対象物で反射して受光器に戻るまでの時間を光の位置として検出し、測定対象までの距離を測定することを特徴とする光距離測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/02 H
, G01D 3/00 C
