特許

J-GLOBAL ID：200903009501442731

物体表面の光沢度測定方法

発明者： 中西 雷太
出願人/特許権者： ニチコン株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-123053
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314658
出願日： 1999年04月28日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：

【要約】【課題】 (乱反射光)/(正反射光および乱反射光)をそれぞれの反射光成分の光量に応じた2つの電流値として取り出し、比較することによって、物体表面の光沢度を判別することを目的とする。【解決手段】 赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に照射して反射させ、位相差フィルムと偏光板とを通過する反射光と、偏光板を通過する反射光とに分けて位置検出センサにて検知し、上記2つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処理することを特徴としている。

請求項（抜粋）：

赤外〜可視領域に含まれる光線を物体に照射して反射させ、位相差フィルムと偏光板とを通過する反射光と、偏光板を通過する反射光とに分けて位置検出センサにて検知し、上記2つの反射光の光量に応じた出力電流を信号処理することを特徴とする物体表面の光沢度測定方法。

Fターム (16件)：

2G065AA04 ,  2G065AB02 ,  2G065AB04 ,  2G065AB09 ,  2G065AB22 ,  2G065AB24 ,  2G065AB27 ,  2G065AB28 ,  2G065BA04 ,  2G065BA09 ,  2G065BA33 ,  2G065BB32 ,  2G065BB33 ,  2G065BC03 ,  2G065BC07 ,  2G065DA15