特許

J-GLOBAL ID：200903009547143100

光学的試料測定装置

発明者： 高坂 望
出願人/特許権者： アロカ株式会社
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-206683
公開番号（公開出願番号）：特開平6-050894
出願日： 1992年08月03日
公開日（公表日）： 1994年02月25日
要約：

【要約】【目的】 光電子増倍管によって試料の発光を測定する装置において、光電子増倍管の感度を長期にわたって一定に維持する。【構成】 円盤状のターンテーブル10には複数の載置部が配置され、一方の載置部には試料14が配置され、他方の載置部には標準光源16が配置されている。標準光源16は、その発光量が既知のものであり、ターンテーブル10を回転させて標準光源16の発光を光電子増倍管18で検出し、このときの計数率を所定の一定値に一致するように電圧制御回路30が高電圧ユニット20をコントロールすることによって光電子増倍管18の感度の校正が行われる。

請求項（抜粋）：

試料の発光を検出し、発光量を電気量に変換して測定する光学的試料測定装置において、発光量が既知の標準光源と、少なくとも1つの試料と前記標準光源とを載置する試料搭載台と、前記試料または前記標準光源の発光を検出する光電子増倍管と、前記標準光源の基準の測定値を記憶する基準値メモリと、前記標準光源の発光検出を行った時の測定値と前記基準測定値とを比較し、差があった場合、その差に対応した信号を演算して出力する比較回路と、前記比較回路の出力を受けて差が無くなる迄、前記光電子増倍管の電圧を調整する電圧制御回路と、を含むことを特徴とする光学的試料測定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/62 ,  G01J 1/42 ,  G01J 1/44 ,  G01N 21/76

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-037243
  
• 特開昭53-105286
  
• 特開平3-120445