特許
J-GLOBAL ID：200903009614531889
回路基板の検査電極装置および検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大井 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-262631
公開番号（公開出願番号）：特開平5-072231
出願日： 1991年09月17日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：
【要約】【目的】 高密度の回路基板の被検査電極について、テスターに対する電気的接続を高い効率で容易に達成することができ、高い信頼性で回路基板の検査を行うことのできる検査電極装置および検査方法を提供することを目的とする。【構成】 検査電極装置は、絶縁性基体の一面において、標準格子点位置に検査電極が形成された検査電極エレメントと、検査電極エレメントにおける、互いに同一の検査電極配置を有する複数の機能領域の各々における互いに対応する検査電極を相互に電気的に接続して共通化電極とする接続部材とよりなる。そして、検査電極装置の検査電極が形成された一面に、コネクタを介して、検査電極エレメントの各機能領域より大きい形状の被検査電極領域を有する被検査回路基板を配置し、各被検査電極を共通化電極に個別に電気的に接続させ、共通化電極により被検査回路基板の検査が行われる。
請求項（抜粋）：
絶縁性基体の一面において、縦横に並ぶ標準格子点位置に検査電極が形成されてなる検査電極エレメントと、この検査電極エレメントにおける、互いに同一の検査電極配置を有する複数の機能領域の各々における互いに対応する位置に配置された検査電極を相互に電気的に接続して共通化電極とする接続部材とよりなることを特徴とする回路基板の検査電極装置。
IPC (3件)：
G01R 1/073
, G01R 31/02
, G01R 31/28
