画素の位置誤差または原稿の走査速度の測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：武顕次郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-251944
公開番号（公開出願番号）：特開平10-098584
出願日： 1996年09月24日
公開日（公表日）： 1998年04月14日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】測定精度をそこそこにとどめて、測定にかかわる処理の簡素化と高速化とを図る。【解決手段】光電変換装置1は、例えばラインCCDで、画像が電気信号に変換される。電気信号に変換された画像はA/D変換部(器)2でデジタルの多値の画像データに変換される。変換されたデータは、照明の不均一さ、レンズの周辺光量の低下、光電変換装置の画素間の感度の違いなどをシェーディング補正部3によってシェーディング補正する。シェーディング補正された画像データは、位置誤差測定部(回路)4に入力され、測定結果に応じた誤差信号6を出力する。位置誤差測定部4では、前記パターンの画像データを2値化し、2値化処理を行った後のデータに対して順次ウィンドウを設定してウィンドウ内の斜線の画像の位置を求める。

請求項（抜粋）：

走査方向に対して一定の傾きの等ピッチのパターンを光学的に読み取って画像データを得る手段と、読み取った前記パターンの画像データに順次ウィンドウを設定してウィンドウ内の斜線の画像の位置を求める手段とを備え、画像を一定の時間間隔で線順次に走査して読み取った画像の画素の位置誤差または原稿の走査速度を測定する測定装置において、前記パターンの画像データの2値化処理を行う手段と、前記2値化処理を行った後のデータに対して順次ウィンドウを設定してウィンドウ内の斜線の画像の位置を求める手段と、を備えていることを特徴とする画素の位置誤差または原稿の走査速度の測定装置。

IPC (3件)：

H04N 1/04 106 , G06T 7/00 , G06T 1/00

FI (3件)：

H04N 1/04 106 A , G06F 15/62 410 Z , G06F 15/64 330

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