特許
J-GLOBAL ID：200903009737205366
周波数可変特性評価装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-268431
公開番号（公開出願番号）：特開平7-103828
出願日： 1993年09月30日
公開日（公表日）： 1995年04月21日
要約：
【要約】【目的】 周波数可変光源の可変特性評価において位相連続周波数可変幅やその直線性、あるいは発振周波数の変化方向を精度良く容易に測定できる周波数可変特性評価装置を提供する。【構成】 周波数可変光源1の光周波数を一方向に掃引する周波数制御回路2と、周波数可変光源1からの光を遅延自己ヘテロダイン検波するための光分岐器4A、遅延ファイバ5と偏波面制御器7、周波数シフター6、受光器8からなる遅延自己ヘテロダイン干渉計と、この検波したビート周波数を測定する周波数分析器9とを備えている。ビート周波数の値から周波数変化率が、ビート周波数と周波数シフター6のキャリア周波数から周波数可変光源1の周波数の変化方向が、またビート周波数の時間変化量の積分から位相連続周波数可変幅が、それぞれ判る。
請求項（抜粋）：
周波数可変光源(1) の光周波数を掃引する周波数制御回路(2) と、掃引した光を分岐する光分岐器(4A)と、分岐された光の一方を遅延する遅延ファイバ(5) と、分岐された光の他方を所定のキャリア周波数で周波数偏移する周波数シフタ(6) と、遅延された光と周波数偏移された光を合波する光分岐器(4B)を備える遅延自己ヘテロダイン干渉計と、合波された光におけるビート周波数を測定する周波数分析器(9) とを備えることを特徴とする周波数可変特性評価装置。
IPC (2件)：
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