非接触半田付け検査方法及びその装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-257246
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094782
出願日： 1997年09月22日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】【課題】本発明は、熱伝導方式による半田付け部の良否判定を正確に行う。【解決手段】半田付け部に加熱用レーザ光を照射して半田付け部を加熱する加熱用レーザ装置と、加熱された半田付け部に測定用レーザ光を照射する測定用レーザ装置と、加熱された半田付け部に測定用レーザ光を照射したときに半田付け部に生じる電位により引き起こされる電場・磁場を受けて起こる測定レーザ光の偏光面の回転を検出する検出系と、この検出系による測定レーザ光の偏光面の回転の検出結果に基づいて半田付け部の良否を判定する判定手段とを備えている。

請求項（抜粋）：

基板上に実装された電子部品の半田付け部の良否を非接触で判定する非接触半田付け検査方法において、前記半田付け部を加熱し、このときに前記半田付け部に生じる電位により引き起こされる電場・磁場を受けて起こるレーザ光の偏光面の回転を検出し、この検出結果に基づいて前記半田付け部の良否を判定することを特徴とする非接触半田付け検査方法。

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