電磁界測定装置および電磁界分布測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：金田暢之 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-034268
公開番号（公開出願番号）：特開2000-230954
出願日： 1999年02月12日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：

【要約】【課題】凹凸のある電子機器の動作状態における電磁界測定を行い電子機器内の電磁波放射源の推定を容易にする。【解決手段】支持部7に、電磁界センサ3と、この電磁界センサ3と被測定物1の距離を測定する距離センサ4が設置されており、これらは駆動部5によって被測定物1の近傍で走査される。この走査時に電磁界センサ3による電磁界測定と距離センサ4による距離測定が行われる。この際、電磁界測定値の分布を電磁界測定距離によって補正することにより、被測定物の立体形状に起因した電磁界測定距離の違いによる電磁界測定値のずれを取り除いた電磁界分布を得ることができる。

請求項（抜粋）：