特許

J-GLOBAL ID：200903009751621682

位置計測方法及びその装置

発明者： 荒川 秀治
出願人/特許権者： 株式会社小松製作所
代理人 (1件)： 浜本 忠 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-289467
公開番号（公開出願番号）：特開平10-132560
出願日： 1996年10月31日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：

【要約】【課題】 汚点がマークに付着した場合でも位置計測誤差を極めて小さく抑えることができるようにする。【解決手段】 レーザスキャナと、レーザスキャナに対向しているマークとの位置関係を計測する方法において、レーザスキャナの既定の走査角内で検出したマークの反射または非反射の数に基づいてマークとレーザスキャナとの間の離隔距離を計測する。

請求項（抜粋）：

レーザスキャナと、レーザスキャナに対向しているマークとの位置関係を計測する方法において、レーザスキャナの既定の走査角内で検出したマークの反射または非反射の数に基づいてマークとレーザスキャナとの間の離隔距離を計測することを特徴とする位置計測方法。

IPC (6件)：

G01C 3/06 ,  B65G 1/00 501 ,  G01B 11/00 ,  G01S 17/02 ,  G06K 7/00 ,  G06K 7/10

FI (6件)：

G01C 3/06 A ,  B65G 1/00 501 C ,  G01B 11/00 H ,  G06K 7/00 U ,  G06K 7/10 R ,  G01S 17/02 A