特許

J-GLOBAL ID：200903009805303819

高分子材料製円筒体のX線による検査方法

発明者： 佐藤 俊彦
出願人/特許権者： 森川産業株式会社
代理人 (1件)： 斎藤 侑 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-065332
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273356
出願日： 1993年03月24日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 高分子材料製円筒体の内部を、X線装置及び画像発生装置を用いて溶接状態等を検査する場合、同円筒体の円の中心寄りの部分を通るX線と、外周寄りの部分を通るX線では画像発生装置上に明暗の差を生じ、不良箇所が見にくい。このためその明暗の差をなくし、不良箇所の周囲を同一明暗濃度として、同不良箇所を見易くする方法の提供。【構成】 検査すべき高分子材料製円筒の外周一部と同一形状の凹部を有し、かつ該凹部を挟む二つの面が互いに平行となる、上記円筒体と同一材料製の治具を設け、上記凹部を上記円筒体の外周一部に接当し、上記二つの面の一方からX線を入射し、他方の面から出たX線を画像発生装置に入射させることにより、X線の高分子材料通過長さを等しくなるように構成した。

請求項（抜粋）：

高分子材料製円筒体の外周一部に、該一部の形状と同一形状の凹部を有し、該凹部を挟む二つの面が平行に形成され、かつ上記円筒体と同一材料製の治具を合致させて接当し、該治具の、前記二つの面の一方からX線を照射し、該治具の一部、前記円筒体、該治具の他の一部を順次に貫かせ、前記二つの面の他の面から出たX線を、画像発生装置に入射させることを特徴とする高分子材料製円筒体のX線による検査方法。