集積論理回路およびそれをテストするための方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：浅村皓 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-028001
公開番号（公開出願番号）：特開平6-317634
出願日： 1994年02月25日
公開日（公表日）： 1994年11月15日
要約：

【要約】【目的】複雑な外部テストパターンを使用せず、集積論理回路をテストすること。【構成】集積回路内の記憶素子をスキャンパスの少なくとも一部として構成し、スキャンパス内の記憶素子から先の記憶素子にフィードバックをし、スキャンパス内の記憶素子をクロック制御する。

請求項（抜粋）：

記憶素子をスキャンパスの少なくとも一部として構成できる集積論理回路をテストする方法であって、a)スキャンパス内の記憶素子から先の記憶素子にフィードバックをし、b)スキャンパス内の記憶素子をクロック制御することを含む集積論理回路のテスト方法。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 360

引用特許：

審査官引用 (4件)

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