特許
J-GLOBAL ID:200903009891369142

3次元逆投影方法およびX線CT装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 有近 紳志郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-235662
公開番号(公開出願番号):特開2003-334188
出願日: 2002年08月13日
公開日(公表日): 2003年11月25日
要約:
【要約】【課題】再構成領域の各画素を透過したX線ビームに正しく対応した投影データを用いて、いわゆるコーンビーム再構成を行う。【解決手段】投影データD0から投影面に面投影されたデータD1を得、投影面に面投影されたデータD1をX線透過方向に再構成領域に投影してラインL0〜L9の逆投影画素データD2を得ると共にライン間を補間し、得られた逆投影画素データD2を画素対応に全ビュー加算し、逆投影データD3を得る(R3)。【効果】再構成領域を透過したX線ビームに正しく対応した投影データを用いて再構成を行いうる。処理の簡単化および高速化が可能となる。
請求項(抜粋):
複数の検出器列を持つマルチ検出器を用いたアキシャルスキャンまたはヘリカルスキャンによって収集した投影データD0を基に投影面上に面投影されたデータD1を求め、次いで再構成領域上の複数画素間隔あけた複数のラインであって投影面に平行な方向の複数のラインを構成する各画素上に前記面投影されたデータD1をX線透過方向に投影して再構成領域上のラインを構成する各画素の逆投影画素データD2を求め、前記複数のライン間を補間して再構成領域上のライン間の各画素の逆投影画素データD2を求め、画像再構成に用いる全ビューの逆投影画素データD2を画素対応に加算して逆投影データD3を求めることを特徴とする3次元逆投影方法。
IPC (5件):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 3/00 100 ,  G06T 3/00 300
FI (6件):
A61B 6/03 350 T ,  A61B 6/03 350 R ,  A61B 6/03 350 U ,  G06T 1/00 290 A ,  G06T 3/00 100 ,  G06T 3/00 300
Fターム (25件):
4C093AA22 ,  4C093BA08 ,  4C093BA10 ,  4C093CA13 ,  4C093EB18 ,  4C093FE06 ,  4C093FE12 ,  4C093FE14 ,  4C093FE15 ,  4C093FE22 ,  4C093FF42 ,  5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD11 ,  5B057CD14 ,  5B057CE06 ,  5B057CE08
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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