特許
J-GLOBAL ID：200903009899163713
ピンホール検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
村上 友一
, 大久保 操
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-221679
公開番号（公開出願番号）：特開2004-061363
出願日： 2002年07月30日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：
【課題】耐久性に優れたピンホール検査装置を提供する。【解決手段】ソーセージ等の軸対称形状製品を被検査物1とするピンホール検査装置である。概略的には、ピンホール検査領域8aを通過する周回手段35を設け、その周回方向の直交方向に配列した回転自在な複数のローラ30により被検査物1の搭載部を形成して、被検査物1をピンホール検査領域8aに搬送可能とする。また、ピンホール検査領域8aにおいて、被検査物1を搭載しているローラ30を強制回転させることにより、被検査物1を対称軸回りに回転させるローラ回転手段を設ける。そして、ピンホール検査領域8aに、導電性を有する玉鎖13を複数本垂下して構成された電極10,20を設置して、被検査物1の全周検査を可能とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
概略軸対称形状の製品を被検査物とするピンホール検査装置であって、
ピンホール検査領域を通過する周回手段を設け、前記周回手段の周回方向と交差する方向に配列された複数のローラにより前記被検査物の搭載部を形成して、前記被検査物を前記周回方向と交差する方向に配列した状態で前記ピンホール検査領域に搬送可能とし、
前記ピンホール検査領域において、前記被検査物を搭載しているローラを強制回転させることにより、前記被検査物を前記対称軸回りに回転させるローラ回転手段を設けるとともに、
前記ピンホール検査領域に、導電性を有する玉鎖を複数本垂下して構成された電極を配置して、前記被検査物の全周検査を可能としたことを特徴とするピンホール検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
2G067AA47
, 2G067BB26
, 2G067DD27
