特許

J-GLOBAL ID：200903009972428623

故障診断装置及び方法

発明者： 山田 祐 ,  須田 健二 ,  吉岡 龍三 ,  森 正行 ,  永尾 誠
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 橋爪 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-282950
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090425
出願日： 2000年09月19日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
要約：

【要約】【課題】 各種電子機器に含まれる電子回路の故障診断を、迅速かつ容易に行う。【解決手段】 故障診断システムは、例えば、従来の診断用電子交換機100と、故障診断装置200と、故障診断装置200に同時に接続される正常基板150及び不良基板160とを備えており、故障診断装置200は、例えば、二股に分岐した延長基板210と、この延長基板210の一端側側面にそれぞれ配された正常基板用コネクタ211、212と、不良基板用コネクタ213、214と、診断用電子交換機100と接続するための診断機器用コネクタ215と、正常基板150には通常の入出力信号を送ると共に、不良基板160には診断用電子交換機100からの入力信号を必要に応じて送り、不良基板160からの出力信号を必要に応じてカットするスイッチ回路部220とを備える。

請求項（抜粋）：

電子交換機等の電子機器に含まれる電子回路の故障診断を、該電子機器に対応する診断用電子機器を用いて行う故障診断装置であって、一端に該電子機器内で正常に作動する正常基板を挿入する第1コネクタと、一端に該電子機器内で正常に作動しない不良基板を挿入する第2コネクタと、他端に該診断用電子機器を接続する第3コネクタと、前記第3コネクタに対して、前記第1及び第2コネクタを並列に接続する延長基板と、前記第3コネクタと前記第2コネクタとの間に設けられ、不良基板の種類に応じて、前記第3コネクタと前記第2コネクタ間の複数の各信号線をオープン、ショート、抵抗による接続のいずれかに設定するスイッチ回路部とを備えた故障診断装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H04Q 1/02 ,  H04L 29/14

FI (3件)：

H04Q 1/02 ,  G01R 31/28 T ,  H04L 13/00 315 Z

Fターム (24件)：

2G032AA00 ,  2G032AB00 ,  2G032AJ02 ,  2G032AJ03 ,  2G032AJ04 ,  5K035AA01 ,  5K035AA07 ,  5K035CC03 ,  5K035CC05 ,  5K035EE04 ,  5K035EE14 ,  5K035GG14 ,  5K035GG15 ,  5K073AA07 ,  5K073CC06 ,  5K073CC12 ,  5K073CC13 ,  5K073CC38 ,  5K073GG02 ,  5K073GG08 ,  5K073GG11 ,  5K073JJ03 ,  5K073JJ14 ,  5K073LL03