2端子回路素子測定装置およびコンタクトチェック方法

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-032377
公開番号（公開出願番号）：特開2004-245584
出願日： 2003年02月10日
公開日（公表日）： 2004年09月02日
要約：

【課題】DUTの容量が小さくなってもオフセット容量などの影響を受けることなく精度良くコンタクトチェックを行うことのできる2端子回路素子測定装置を提供する。【解決手段】中心導体である第1導体と、この第1導体の外周に設けられた第2導体とからなる同軸ケーブルの一端が接続され、このケーブルの他端の第1導体にはDUTが接続され、DUTとのコンタクトチェックができるように構成された測定装置であって、前記同軸ケーブルを介してDUTと直列接続され、コモンラインがこの同軸ケーブルの第2導体に接続された電流計と、この電流計とは独立した回路であって、前記DUTに印加用の、交流電圧の重畳された直流電圧を発生する直流電圧発生回路と、前記電流計の出力から直流成分と交流成分を抽出して前記DUTの絶縁抵抗と交流インピーダンスを求め、これを基にコンタクトチェックを行う信号処理手段を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

中心導体である第1導体と、この第1導体の外周に設けられた第2導体とからなる2軸同軸ケーブルの一端が接続され、このケーブルの他端の第1導体にはDUTが接続され、DUTとのコンタクトチェックができるように構成された測定装置であって、前記2軸同軸ケーブルを介してDUTと直列接続され、コモンラインがこの2軸同軸ケーブルの第2導体に接続された電流計と、この電流計とは独立した回路であって、前記DUTに印加用の、交流電圧の重畳された直流電圧を発生する直流電圧発生回路と、前記電流計の出力から直流成分と交流成分を抽出して前記DUTの絶縁抵抗と交流インピーダンスを求め、これを基にコンタクトチェックを行う信号処理手段を備えたことを特徴とする2端子回路素子測定装置。

IPC (2件)：

G01R27/02 , G01R31/02

FI (3件)：

G01R27/02 A , G01R27/02 R , G01R31/02

Fターム (12件)：

2G014AA14 , 2G014AB34 , 2G014AB53 , 2G014AC18 , 2G028AA01 , 2G028BB06 , 2G028CG03 , 2G028CG08 , 2G028DH03 , 2G028DH05 , 2G028GL07 , 2G028MS03

引用特許：

審査官引用 (5件)

一端子トリオ,二端子トリオ測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-274543 出願人：横河・ヒユーレツト・パツカード株式会社
特許第3155310号
特開平4-131770

全件表示

前のページに戻る