特許

J-GLOBAL ID：200903010085099931

表示装置または撮像装置の評価選別方法及び装置

発明者： 日高 修一 ,  上村 博一
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-321569
公開番号（公開出願番号）：特開2001-141601
出願日： 1999年11月11日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：

【要約】【課題】 短時間で手間をかけずに、任意の判定条件による良否選別やグレード分類を行える表示装置または撮像装置の評価選別方法及び装置を提供すること。【解決手段】 表示装置を表示させて得られる画像情報または撮像装置で撮像して得られる画像情報から得られる表示装置または撮像装置の特性の測定データを記憶装置2に保持し、評価選別のための判定基準を変更する場合には、記憶装置2から端末4a〜4dで測定データを取り出して、この測定データに変更した判定基準を適用して、この判定基準に基づく表示装置または撮像装置の良否の選別または性能別のランク分けを行うようにしている。

請求項（抜粋）：

表示装置を表示させて得られる画像情報または撮像装置で撮像して得られる画像情報から前記表示装置または前記撮像装置の特性を測定し、この測定データと判定基準との比較に基づいて前記表示装置または前記撮像装置の良否の選別または性能別のランク分けをするようにした表示装置または撮像装置の評価選別方法において、前記測定データを記憶装置に保持して、前記判定基準を変更して前記評価選別を行う場合には、前記記憶装置から前記測定データを取り出して、この測定データと変更した判定基準とを比較して前記評価選別を行うようにしたことを特徴とする表示装置または撮像装置の評価選別方法。

IPC (5件)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/88 ,  G09F 9/00 352 ,  H04N 17/00 ,  H04N 17/04

FI (5件)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/88 Z ,  G09F 9/00 352 ,  H04N 17/00 K ,  H04N 17/04 Z

Fターム (18件)：

2G051AA90 ,  2G051AB11 ,  2G051AB20 ,  2G051AC04 ,  2G051DA13 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G086EE01 ,  2G086EE10 ,  5C061BB05 ,  5C061CC01 ,  5C061CC05 ,  5C061EE05 ,  5C061EE21 ,  5G435AA17 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10