特許
J-GLOBAL ID：200903010115259653
半田形状の検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
橘 哲男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-091180
公開番号（公開出願番号）：特開2001-284789
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月12日
要約：
【要約】【課題】 エリアアレイパッケージのバンプがプリント基板のパターンに対して浮いている状態、すなわち、オープン状態の半田不良か否かの判断は非常に困難であって、他の検査で正常と判断されたものあっても、このオープンによって正常に動作しないといった問題があった。【解決手段】 基板に実装されたBGA型のエリアアレイパッケージにX線を照射して得られた画像において、バンプ頂上付近の断面積および略中央部分の断面積とを算出し、該算出によって得られた2つの断面積から面積比を算出し、該算出した面積比が予め設定した面積比の下限値より大なる時は正常半田付けと判定し、下限値より小さい時はオープン半田付けと判定することを特徴とする半田形状の検査方法。
請求項（抜粋）：
基板に実装されたBGA型のエリアアレイパッケージにX線を照射して得られた画像において、バンプ頂上付近の断面積および略中央部分の断面積とを算出し、該算出によって得られた2つの断面積から面積比を算出し、該算出した面積比が予め設定した面積比の下限値より大なる時は正常半田付けと判定し、下限値より小さい時はオープン半田付けと判定することを特徴とする半田形状の検査方法。
IPC (3件)：
H05K 3/34 512
, G01B 15/00
, G01B 15/04
H05K 3/34 512 B
, G01B 15/00 A
, G01B 15/04
2F067AA52
, 2F067AA62
, 2F067BB07
, 2F067CC14
, 2F067HH04
, 2F067JJ03
, 2F067KK06
, 2F067LL16
, 2F067RR24
, 2F067RR30
, 5E319AA03
, 5E319AB05
, 5E319BB04
, 5E319CD53
