欠陥状態表示装置およびその方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：八田幹雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-001607
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194351
出願日： 2000年01月07日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】被検体内部の欠陥を定量的に表示することができる欠陥状態表示方法を提供する。【解決手段】被検体に超音波を照射して被検体からの音波情報を検出する段階と、検出した音波情報から欠陥を検出する段階と、検出した欠陥の位置を所定深さごとに分けたれたレイヤー1,2,...上に登録する段階と、レイヤー1,2,...を重ね合わせて、欠陥の登録位置が重なり合うかまたは隣接する位置にある欠陥を連結する段階と、を有することを特徴とする欠陥状態表示方法。

請求項（抜粋）：

被検体に超音波を照射して該被検体からの音波情報を検出する音波検出手段と、検出した音波情報から欠陥を検出し、該検出した欠陥の位置を所定深さごとに分けられた平面上に登録して、該平面を重ね合わせ、欠陥の登録位置が平面間で重なり合うかまたは隣接する位置にある欠陥を連結する欠陥状態処理手段と、該欠陥状態処理手段による処理結果に基づいて、欠陥状態を表示する表示手段と、を有することを特徴とする欠陥状態表示装置。

Fターム (6件)：

2G047BC07 , 2G047BC10 , 2G047GA19 , 2G047GF12 , 2G047GG19 , 2G047GH01

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