特許

J-GLOBAL ID：200903010164804985

周波数測定装置及び周波数変調諸元判定装置

発明者： 川島 一夫
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-140232
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318682
出願日： 1996年06月03日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：

【要約】【課題】 装置の温度変化による誤差変動の影響を受けず、また複数のIF信号の周波数を個々に算出することのできる周波数測定装置及び周波数変調緒元判定装置を得る。【解決手段】 DRFM回路2を用いて入力IF信号を高速サンプリングを行う。DRFM回路2が記憶する振幅値を高速で、メモリに時系列に記憶する。時系列の振幅値,時刻の対の情報からデジタル処理で周波数値を算出する。また、DRFM回路2を用いて同様にして周波数変調緒元を判定する。

請求項（抜粋）：

入力信号をサンプルし、当該サンプリングにより計測されたディジタル振幅値を記憶するDRFM回路と、前記DRFM回路に記憶されたディジタル振幅値を逐次読み出し、時系列に出力する読み出し回路と、前記読み出し回路より出力されたディジタル振幅値を時系列に記憶する振幅メモリ回路と、前記振幅メモリ回路に記憶されたディジタル振幅値に基づいて当該入力信号の周波数を算出する周波数算出回路とを備えた周波数測定装置。

IPC (3件)：

G01R 23/16 ,  G01R 23/10 ,  G01S 7/40

FI (3件)：

G01R 23/16 B ,  G01R 23/10 A ,  G01S 7/40 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-065520
  
• 特開昭61-154317
  
• 特開平2-065520
  
• 特開昭61-154317