特許
J-GLOBAL ID:200903010182508129

研磨性スラリー及びその使用

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 有賀 三幸 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-056718
公開番号(公開出願番号):特開2001-284296
出願日: 2001年03月01日
公開日(公表日): 2001年10月12日
要約:
【要約】【解決手段】 半導体又は集積回路(IC)の製造工程において使用するための研磨性スラリー。該研磨性スラリーは、酸化セリウム、アルミニウムの水酸化物、セリウム塩及び水、並びに任意に、該スラリーのpHを5未満に調整するための酸性物質を含有する。【効果】 本発明の研磨性スラリーは、半導体又はICの製造工程の浅溝(トレンチ)分離(STI)において、絶縁された誘電体層用の研磨剤として特に有用である。
請求項(抜粋):
CeO2、アルミニウムの水酸化物、セリウム塩及び水、並びに任意に、スラリーのpHを5未満に調整するための酸性物質を含有する研磨性スラリー。
IPC (3件):
H01L 21/304 622 ,  B24B 37/00 ,  C09K 3/14 550
FI (3件):
H01L 21/304 622 D ,  B24B 37/00 H ,  C09K 3/14 550 D

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