特許
J-GLOBAL ID:200903010182823199

微弱光測定装置および微弱光測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山田 正紀 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-032235
公開番号(公開出願番号):特開平9-229769
出願日: 1996年02月20日
公開日(公表日): 1997年09月05日
要約:
【要約】【課題】本発明は、散乱極微弱光の測定に好適な微弱光測定装置および微弱光測定方法に関し、同一の波長領域の背景光成分に埋もれてしまうほどの微弱な信号光であっても、その信号光の測定を可能にする。【解決手段】2つの入力信号端子を有しそれら2つの信号入力端子から入力された2つの信号の差分を増幅して出力する差動増幅器、および前記差動増幅器の2つの信号入力端子それぞれに、該2つの信号入力端子それぞれから見たときに同一の向きに接続された各フォトダイオードを有する2つの受光回路を備えた微弱光測定装置を用意し、所定の信号光の発光レベルが相互に異なる被測定体および参照体それぞれから発せられた第1の光および第2の光を、上記2つの受光回路の各フォトダイオードそれぞれに同時に入射させる。
請求項(抜粋):
2つの信号入力端子を有しそれら2つの信号入力端子から入力された2つの信号の差分を増幅して出力する差動増幅器、および前記差動増幅器の2つの信号入力端子それぞれに、該2つの信号入力端子それぞれから見たときに同一の向きに接続された各フォトダイオードを有する2つの受光回路を備えたことを特徴とする微弱光測定装置。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭61-131570
  • 特開平4-186127
  • 特表平4-503107
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