特許

J-GLOBAL ID：200903010213258908

電子写真装置の印字位置補正方法

発明者： 菊地 進
出願人/特許権者： 株式会社サムスン横浜研究所
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-341072
公開番号（公開出願番号）：特開2002-144631
出願日： 2000年11月08日
公開日（公表日）： 2002年05月22日
要約：

【要約】【課題】 複数の光源を有する電子写真装置において、基準データに基づいて描画データを効果的に測定し、光学系の歪みなどによる印字位置ずれを補正する。【解決手段】 CCDセンサー13が各測定画像C,M,Y,Bを測定したとき、測定画像Bを基準データとして、他の測定画像C,M,Yとそれぞれ比較する。これによって、基準データである測定画像Bに位置ずれを生じていても、他の測定画像C,M,Yの補正データは、測定画像Bを基準として生成されているので、測定画像C,M,Yのそれぞれは、測定画像Bに重なるように補正される。尚、他の測定画像C,M,Yの何れを基準データとしてもよいことは勿論である。このように、測定画像の何れか一本を基準データとすることによって、補正演算を1回少なくすることができる。したがって、印字位置補正の処理時間を短縮することができると共に、処理能力の小さいCPUを利用することができる。

請求項（抜粋）：

異なる色を有する複数の光学系により描画された複数の描画データと、予め設定された基準データとを比較することにより、印字位置の補正を行う電子写真装置の印字位置補正方法において、前記基準データは、前記複数の描画データを測定する位置検出手段の絶対位置に基づいて生成されたことを特徴とする電子写真装置の印字位置補正方法。

IPC (8件)：

B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455 ,  G02B 26/10 ,  G03G 15/00 303 ,  G03G 15/01 ,  G03G 15/01 114 ,  H04N 1/29

FI (9件)：

G02B 26/10 B ,  G02B 26/10 A ,  G03G 15/00 303 ,  G03G 15/01 S ,  G03G 15/01 Y ,  G03G 15/01 114 A ,  H04N 1/29 G ,  B41J 3/00 D ,  B41J 3/21 L

Fターム (49件)：

2C162AE04 ,  2C162AE12 ,  2C162AE21 ,  2C162AE28 ,  2C162AE47 ,  2C162AF62 ,  2C162AF82 ,  2C162FA17 ,  2C362CA22 ,  2C362CA39 ,  2H027DA09 ,  2H027DE02 ,  2H027EA20 ,  2H027EB04 ,  2H027EC03 ,  2H027EC06 ,  2H027ED04 ,  2H027ED06 ,  2H027ZA07 ,  2H030AA01 ,  2H030AB02 ,  2H030AD11 ,  2H030AD17 ,  2H030BB02 ,  2H030BB16 ,  2H030BB36 ,  2H030BB42 ,  2H030BB56 ,  2H045BA22 ,  2H045BA33 ,  2H045BA34 ,  2H045CA88 ,  2H045CA97 ,  2H045DA11 ,  2H045DA41 ,  5C074AA07 ,  5C074AA10 ,  5C074BB02 ,  5C074BB03 ,  5C074BB04 ,  5C074BB26 ,  5C074CC26 ,  5C074DD24 ,  5C074EE04 ,  5C074EE11 ,  5C074FF15 ,  5C074GG09 ,  5C074GG14 ,  5C074GG19