特許

J-GLOBAL ID：200903010223454098

ICP発光分光分析装置

発明者： 広道 仁 ,  大穂 健介 ,  岡田 幸治
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-033176
公開番号（公開出願番号）：特開平5-232025
出願日： 1992年02月20日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：

【要約】【目的】 ICP発光分光分析装置において、超音波ネブライザでの試料エアロゾルの発生量を増やして、検出感度を高める。【構成】 超音波ネブライザ1を有するICP発光分光分析装置において、超音波ネブライザ1の霧化室5でのキャリアガス流入方向が超音波振動子6に向かう方向に設定されている構成とした。

請求項（抜粋）：

超音波ネブライザを備え、この超音波ネブライザは、その霧化室内に振動体が配備され、この振動体の表面に液体試料を供給するとともに、供給された液体試料を該振動体の振動によって霧化する構造を有しており、かつ、この振動体の表面に向けてキャリアガスが吹き付けられる構造を有していることを特徴とするICP発光分光分析装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-071340
  
• 特開平3-147241
  
• 特開昭64-021340