特許

J-GLOBAL ID：200903010324530399

三次元粒子検出方法及び装置

発明者： 守矢 一男 ,  大塚 勝
出願人/特許権者： 三井金属鉱業株式会社
代理人 (1件)： 伊東 辰雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-271031
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094595
出願日： 1992年09月14日
公開日（公表日）： 1994年04月05日
要約：

【要約】【目的】 各粒子の位置、大きさ、構造などを正確に検出できるようにする。【構成】 粒子が分布する被検物体の、相互位置関係が明確な断層画像群の濃淡画像データを得ることにより粒子の三次元的な濃淡画像データを得、その各画素のデータについてその濃度を二値化することにより粒子の三次元的な二値画像データを得、この二値画像データについて三次元的に縮退処理を施すことにより各粒子の二値画像データをその中心点の二値画像データのみとし、それにより各粒子の位置を三次元的に確定する。

請求項（抜粋）：

粒子が分布する被検物体の、相互位置関係が明確な断層画像群の濃淡画像データを得ることにより粒子の三次元的な濃淡画像データを得、その各画素のデータについてその濃度を二値化することにより粒子の三次元的な二値画像データを得、この二値画像データについて三次元的に縮退処理を施すことにより各粒子の二値画像データをその中心点の二値画像データのみとし、それにより各粒子の位置を三次元的に確定することを特徴とする三次元粒子検出方法。

IPC (4件)：

G01N 15/00 ,  G01N 15/10 ,  G01N 21/47 ,  G06F 15/64

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-237358
  
• 特開平2-269967
  
• 特開平3-123840
  
• 特開昭62-238442