最良点ピック方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大菅義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-069874
公開番号（公開出願番号）：特開平6-278061
出願日： 1993年03月29日
公開日（公表日）： 1994年10月04日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】吸着すべき2つの電子部品を適切な吸着位置でピックアップする最良点ピック方法の実現。【構成】電子部品21-1、21-2の位置中心座標(x、y)を、処理プログラムから読み出して算出し、電子部品21-1、21-2の中心から斜線で示す吸着有効範囲の限界までの距離d1、d2を、予め記憶されている吸着有効範囲のデータテーブルから算出し、2つの吸着ノズル14e-1、14e-2の2つの中心間の距離を不図示の部品認識用カメラで予め認識し、吸着ノズル14e-1を基準とした場合の吸着ノズル14e-2の中心と電子部品21-2の中心とのずれ量(誤差距離)Xを算出する。式「x1=(X÷(d1+d2))×d1」によってx1を算出し、作業ヘッド14の停止位置をx1だけ右方に補正(マイナス補正)する。ずれ量Xが電子部品21-2の中心より内側であるときはx1だけ左方に補正(プラス補正)する。

請求項（抜粋）：

作業ヘッド上で連動する第1と第2の吸着部により寸法の異なる二種類のチップ状電子部品を同時に吸着保持してプリント基板上に搭載するために、前記二種類のチップ状電子部品の最適位置を吸着保持する最良点ピック方法において、前記第1の吸着部の中心と前記第1の吸着部に対応する前記二種類の一方の種類のチップ状電子部品の中心とを一致させたときに生ずる前記第2の吸着部の中心と前記二種類の他方の種類のチップ状電子部品の中心との間の吸着誤差距離を検出し、該検出した吸着誤差距離を所定の割合で2分割してこの分割点を前記第2の吸着部の中心で吸着させることを特徴とする最良点ピック方法。

IPC (5件)：

B25J 9/10 , B25J 15/06 , G06F 15/62 405 , H01L 21/68 , H05K 13/02

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開平2-116485
特開平3-270890
特開平3-265198

審査官引用 (3件)

特開平2-116485
特開平3-270890
特開平3-265198

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