特許

J-GLOBAL ID：200903010366858726

IC試験方法及びIC試験装置

発明者： 木村 浩樹
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-101957
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292478
出願日： 1999年04月09日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：

【要約】【課題】 ICの各端子を直流試験するIC試験装置において、微小電流を高速に測定するIC試験方法を提案する。【解決手段】 被試験ICの端子に電圧印加手段として動作する増幅器から所定の電圧を印加した状態又は被試験ICの端子に所定の電流を印加した状態で端子に流れる電流を電流印加手段として動作する増幅器から印加し、この増幅器に流れる電源電流をカレントミラー回路で増幅器の電力供給路とは別の電流路に取り出し、この電流を既知の抵抗値を持つ電流検出用抵抗器に流してICの端子に流れる電流及びICの端子に発生する電圧を測定する。

請求項（抜粋）：

被試験ICの端子に所定の電圧を印加し、この電圧印加状態で被試験ICの上記端子に流れる電流を測定し、所定の電流が流れるか否かを判定する電圧印加電流試験において、上記被試験ICの端子に所定の電圧を印加する増幅器の電力供給路に、この電力供給路を流れる電流値と所定の比率の値を持つ電流を別の電流路に取り出すことができるカレントミラー回路を接続し、このカレントミラー回路で取り出した電流の値を測定して上記被試験ICの端子に対して電圧印加電流測定試験を行うことを特徴とするIC試験方法。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/02

FI (2件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/02

Fターム (11件)：

2G003AA07 ,  2G003AB01 ,  2G003AB05 ,  2G003AB18 ,  2G003AH04 ,  2G014AA01 ,  2G014AA03 ,  2G014AA13 ,  2G014AA25 ,  2G014AB51 ,  2G014AC19

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平4-203971
  
• 補正電流出力回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-083093   出願人：松下電器産業株式会社