電磁場解析装置、電磁場解析方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：坂上正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-089453
公開番号（公開出願番号）：特開2001-282767
出願日： 2000年03月28日
公開日（公表日）： 2001年10月12日
要約：

【要約】【課題】 FDTD(Finite Difference Time Domain)法によって電磁場解析を行うとき、解析領域内に金属を含んでいても正しい計算を行うこと。【解決手段】電磁場の更新をするための複素数係数を、解析領域への入射光周波数と、金属の入射光周波数に対応する複素屈折率と、金属の直流電位に対する導電率とから求めることで、金属を含む系での電磁場解析が高精度高信頼性をもって行われるようになる。

請求項（抜粋）：

解析領域の少なくとも一部に金属を含み、FDTD(Finite Difference Time Domain)法を用いて電磁場の伝播状態を解析する電磁場解析装置において、前記電磁場が複素数で表現され、前記電磁場の更新をするための複素数係数を、前記解析領域への入射光周波数と、前記金属の前記入射光周波数に対応する複素屈折率と、前記金属の直流電位に対する導電率とから求める手段を備えたことを特徴とする電磁場解析装置。

IPC (5件)：

G06F 17/10 , G06F 17/50 612 , G11B 7/135 , G11B 7/22 , G01R 29/00

FI (5件)：

G06F 17/10 Z , G06F 17/50 612 H , G11B 7/135 A , G11B 7/22 , G01R 29/00 Z

Fターム (14件)：

5B046JA10 , 5B056AA00 , 5B056BB04 , 5B056BB95 , 5B056CC03 , 5B056HH00 , 5D119AA11 , 5D119AA22 , 5D119BA01 , 5D119CA06 , 5D119JA34 , 5D119LB04 , 5D119NA04 , 5D119NA05

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