特許
J-GLOBAL ID:200903010400480770
角膜形状測定装置及びその測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-105703
公開番号(公開出願番号):特開平9-285445
出願日: 1996年04月25日
公開日(公表日): 1997年11月04日
要約:
【要約】【課題】 正確に中心部の主経線方向に合致した方向での周辺部測定を行うことのできる角膜形状測定装置及びその測定方法を提供する。【解決手段】 角膜中心部測定のための測定用指標を角膜上に投影する第1の投影手段X1 と、角膜周辺部測定のための測定用指標を角膜上に投影する第2の投影手段X2 と、第1及び第2の投影手段X1 、X2 により投影された測定用指標の角膜反射像を検出する検出光学系2と、検出光学系2による検出結果に基づいて角膜形状を演算する演算部3とを備える角膜形状測定装置1において、角膜中心部測定にて得られた強主経線方向又は弱主経線方向と所定の基準方向との角度差を算出し、この角度差に基づき測定者に適切な測定を行わせるための所定の表示を行う表示部6を設ける。
請求項(抜粋):
第1の投影手段と、第2の投影手段と、検出光学系と、演算部とを備えた角膜形状測定装置を用いて、角膜の形状を測定する角膜形状測定方法であって下記のステップからなるもの。(イ)前記第1の投影手段にて角膜中心部測定のための中心用指標を角膜上に投影し、前記検出光学系にて前記中心用指標の角膜反射像を検出し、前記演算部にて前記検出光学系による検出結果から角膜形状を演算する、中心部測定ステップ。(ロ)前記ステップの後に連続して、前記第2の投影手段にて角膜周辺部測定のための周辺用指標を角膜上に投影し、前記検出光学系にて前記周辺用指標の角膜反射像を検出し、前記演算部にて前記検出光学系による検出結果から角膜形状を演算する、周辺部測定ステップ。(ハ)さらに前記中心部測定ステップと周辺部測定ステップとを交互に連続して行うステップ。
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