特許
J-GLOBAL ID：200903010404908473
偏光フィルム製品の表面反射率測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
久保山 隆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-266560
公開番号（公開出願番号）：特開平8-128921
出願日： 1994年10月31日
公開日（公表日）： 1996年05月21日
要約：
【要約】【目的】偏光フィルム製品自身には何らの手も加えずに、該製品の損失も無く、その表面反射率を正確に検知する方法を提供する。【構成】偏光フィルム製品の表面反射率を測定する方法において、該測定面側に、偏光子をその偏光軸が偏光フィルム製品の偏光軸と直交するように配置し、該偏光子の前面から出射光線を当て、偏光フィルム製品からの反射光を該偏光子を通して測定することを特徴とする偏光フィルム製品の表面反射率測定方法。
請求項（抜粋）：
偏光フィルム製品の表面反射率を測定する方法において、該測定面側に、偏光子をその偏光軸が偏光フィルム製品の偏光軸と直交するように配置し、該偏光子の前面から出射光線を当て、偏光フィルム製品からの反射光を該偏光子を通して測定することを特徴とする偏光フィルム製品の表面反射率測定方法。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G01N 21/55
, G02B 5/30
