粉粒体の流動計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：杉本修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-075753
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266772
出願日： 1999年03月19日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】環境や運用条件の変化による影響が少なく、メンテナンスおよびキャリブレーションを軽減できるとともに、連続して高い計測精度でもって粉粒体の流動を計測できる計測装置を得る。【解決手段】導管2に設けられ前記導管2内を流れる粉粒体粒子3aを帯電させる電界荷電部5と、前記電界荷電部5よりも下流側に設けられて帯電した粉粒体粒子3bによって誘導される電気量を検出する静電誘導検出部6と、前記検出した電気量から前記導管2内の粉粒体の流量ρVs'と流速υの少なくとも一方を算出する演算部7とを備えた。

請求項（抜粋）：

導管に設けられて前記導管内を流れる粉粒体粒子を帯電させる電界荷電部と、前記導管における前記電界荷電部よりも下流に設けられて帯電した粉粒体粒子によって誘導される電気量を検出する静電誘導検出部と、前記検出した電気量から、前記導管内の粉粒体の流量と流速の少なくとも一方を算出する演算部とを備えた粉粒体の流動計測装置。

IPC (4件)：

G01P 5/08 , G01F 1/56 , G01F 1/74 , G01R 29/24

FI (4件)：

G01P 5/08 A , G01F 1/56 , G01F 1/74 , G01R 29/24 A

Fターム (3件)：

2F035AA04 , 2F035AB03 , 2F035HA01

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開平3-280915
特開昭54-020762
特開昭58-080560

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審査官引用 (11件)

特開平3-280915
特開平3-280915
特開昭54-020762

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