特許
J-GLOBAL ID：200903010435044620

電池端子検査装置、検査方法および筒形乾電池

発明者：
國谷 繁之

國谷 繁之 について

, 
土田 雄治

土田 雄治 について

, 
山崎 龍也

山崎 龍也 について


出願人/特許権者：
FDKエナジー株式会社

FDKエナジー株式会社 について


代理人 (1件)： 一色国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-016780
公開番号（公開出願番号）：特開2007-200666
出願日： 2006年01月25日
公開日（公表日）： 2007年08月09日
要約：
【課題】起電力の低い乾電池においてとくに生じやすい端子面の接触不良を的確に検査して抑制することを可能にする。しかも、その検査は非接触で高効率に行えるようにする。また、端子面の接触不良が確実に抑制された筒形乾電池を提供する。【解決手段】乾電池10の正極端子12および負極端子32の外表面における電気接触性を検査する装置50であって、電池端子面の被測定個所に光を入射させる投光手段51と、被測定個所からの光反射状態を検出する受光手段52と、この受光手段52の検出に基づいて被測定個所の光沢度を定量化する測定処理手段55とを備え、上記光沢度の測定値によって上記電気接触性の評価データを得る。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
乾電池の正極端子および負極端子の外表面における電気接触性を検査する装置であって、電池端子面の被測定個所に光を入射させる投光手段と、被測定個所からの光反射状態を検出する受光手段と、この受光手段の検出に基づいて被測定個所の光反射状態を数値化する測定処理手段とを備え、上記光反射状態の測定値によって上記電気接触性の評価データを得ることを特徴とする電池端子検査装置。
IPC (1件)：
H01M 10/48
FI (1件)：
H01M10/48 P
Fターム (4件)：
5H030AA01 ,  5H030AS20 ,  5H030FF41 ,  5H030FF51
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 円筒形電池
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-314718   出願人：東芝電池株式会社
  • 非水電解質電池
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-311709   出願人：日本電池株式会社
  • 電 池
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-213219   出願人：松下電器産業株式会社
審査官引用 (2件)
  • 電 池
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-213219   出願人：松下電器産業株式会社
  • 電池の電圧測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-295897   出願人：東芝電池株式会社

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