特許
J-GLOBAL ID:200903010444403480

中性子ビーム制御装置及び中性子エネルギー測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 平木 祐輔 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-060630
公開番号(公開出願番号):特開2000-258598
出願日: 1999年03月08日
公開日(公表日): 2000年09月22日
要約:
【要約】【課題】 中性子ビームの形状、速度方向等を制御する。【解決手段】 中性子ビーム16に対して傾斜した入射面あるいは出射面を与える微小突起12が面内に1又は複数設けられた板状部材11を複数枚積層する。微小突起は12、例えば板状部材の面に対して略垂直な面と傾斜した面とを備え面内方向に延びる細長い突起(細長い突起の長手方向に垂直な断面形状は三角形)とする。
請求項(抜粋):
中性子ビームに対して傾斜した入射面あるいは出射面を与える微小突起が面内に1又は複数設けられた板状部材を複数枚積層したことを特徴とする中性子ビーム制御装置。
IPC (4件):
G21K 1/06 ,  G01T 1/36 ,  G01T 3/00 ,  G21K 1/00
FI (5件):
G21K 1/06 B ,  G21K 1/06 C ,  G01T 1/36 A ,  G01T 3/00 G ,  G21K 1/00 N
Fターム (7件):
2G088EE27 ,  2G088EE29 ,  2G088FF09 ,  2G088FF15 ,  2G088GG25 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ11

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