特許

J-GLOBAL ID：200903010474682731

光波測距儀

発明者： 川北 直裕
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 土井 健二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-324059
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160065
出願日： 1997年11月26日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：

【要約】【課題】光波測距儀を使用した連続する複数回の測距において、全体の測距時間が長かった。【解決手段】少なくとも第1の周波数とそれより低い第2の周波数を含む複数の光強度変調周波数を有し、それぞれの前記光強度変調周波数で変調された光を目標物に投光し、前記目標物で反射した光を受光して、前記投光した光と前記受光した光との位相差から、それぞれの前記光強度変調周波数に対応した測定値を求め、それぞれの前記測定値を加算して前記目標物までの距離を測距する光波測距儀において、1回目の測距では、前記複数の光強度変調周波数に対応した測定値を求め、2回目の測距では、前記第1の周波数以上の光強度変調周波数の光で測定値を求め、今回の前記第1の周波数に対応する測定値と、前回の前記第1の周波数より低い前記光強度変調周波数に対応する測定値とを加算する。

請求項（抜粋）：

少なくとも第1の周波数とそれより低い第2の周波数を含む複数の光強度変調周波数を有し、それぞれの前記光強度変調周波数で変調された光を目標物に投光し、前記目標物で反射した光を受光して、前記投光した光と前記受光した光との位相差から、それぞれの前記光強度変調周波数に対応した測定値を求め、それぞれの前記測定値を加算して前記目標物までの距離を測距する光波測距儀において、1回目の測距では、前記複数の光強度変調周波数に対応した測定値を求め、2回目の測距では、前記第1の周波数以上の光強度変調周波数の光で測定値を求め、今回の前記第1の周波数に対応する測定値と、前回の前記第1の周波数より低い前記光強度変調周波数に対応する測定値とを加算して前記距離とすることを特徴とする光波測距儀。

IPC (3件)：

G01C 3/06 ,  G01S 7/48 ,  G01S 17/36

FI (3件)：

G01C 3/06 Z ,  G01S 7/48 A ,  G01S 17/36