特許

J-GLOBAL ID：200903010592580307

撮像手段を用いた対象物の検査方法

発明者： 営野 照雄 ,  山本 勉 ,  此村 優 ,  鈴木 克哉 ,  山口 征治
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-251783
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087531
出願日： 1991年09月30日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：

【要約】【目的】 対象物が一部しか観察できない場合においても、煩雑な操作を必要としないで、対象物の被写体画像と対象物に対応した図形とを一致させて被測定部の長さ、面積等を測定する。【構成】 対象物の被写体画像を表示するプロセス、前記対象物に対応する図形と、前記対象物との相対的な位置関係を特定可能な他の要素に対応する図形とを構成するプロセス、前記他の要素に対応した図形が前記被写体画像と一致した見え方をするように図形の姿勢を可変するプロセス、前記対象物に対応する図形と前記他の要素に対応した図形との相対的位置関係を可変して、前記対象物に対応する図形を被写体画像と一致させるプロセス、対象物の検査したい部分をなす複数の画像上の点を指定して、これらの位置データから図形上における対応する点を決定するプロセスとによって、被測定部部の長さ、面積等を計測する。

請求項（抜粋）：

形状寸法が既知である対象物を検査する方法であって、対象物を撮像手段で撮像し、モニタ画面上に対象物の画像を表示する第1のプロセスと、前記形状寸法のデータを用いて、前記対象物に対応する図形と、前記対象物との相対的な位置関係を特定可能な他の要素に対応する図形とを構成する第2のプロセスと、前記他の要素に対応した図形上の複数の特定部位に対応する前記対象物の画像中の位置を指定する第3のプロセスと、前記第3のプロセスで指定された画像中の各位置のデータを用いることにより、前記他の要素に対応した図形が前記対象物の画像と実質的に一致した見え方をするように前記図形の姿勢を可変する第4のプロセスと、前記対象物に対応する図形と前記他の要素に対応した図形との相対的位置関係を、前記対象物の画像上における位置関係と一致するように前記対象物に対応する図形を可変する第5のプロセスと、前記対象物の検査したい部分を成す複数の点の画像上における位置を指定して、これらの位置のデータから前記対象物に対応した図形上における対応する複数の点の位置を決定する第6のプロセスと、により前記第6のプロセスで指定された複数の点に対応する前記図形上での各位置データを用いて、前記図形上における対応する複数の点によって規定される被測定量を計測する撮像手段を用いた対象物の検査方法。

IPC (6件)：

G01B 11/00 ,  A61B 1/00 300 ,  G01B 11/24 ,  G02B 23/24 ,  G06F 15/62 400 ,  H04N 7/18