特許
J-GLOBAL ID：200903010640400189
半田印刷検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-170406
公開番号（公開出願番号）：特開平6-011321
出願日： 1992年06月29日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：
【要約】【目的】半田印刷検査において、プログラム作成時間の短縮と、作成者によるばらつきをなくし、安定した測定精度を実現する。【構成】検査プログラム作成時、各検査画面10ごとに印刷前の基板4に対して、あらかじめ指定された検査対象範囲(検査枠)8内の部品パッド部6の高さを測定し、その測定値をもとに、検査枠8外の導体パターン部7を抽出し、あらかじめ指定された寸法の高さ測定基準点9を設定する。これにより、従来、作業者が目視にて判断して導体パターン部を選択しながら高さ測定基準点を設定していた作業を自動化でき、プログラム作成時間の短縮を計るとともに、作業者による設定のばらつきをなくし、安定した測定精度を得ることができる。
請求項（抜粋）：
プリント基板実装工程の半田印刷工程で印刷された半田状態を測定する半田印刷検査方法において、あらかじめ設定された検査対象の部品パッドの位置情報と一度に処理可能な範囲とから、所定の寸法の検査画面を分割生成する第1工程と、第1工程にて分割された画面内の各点の高さに対応する輝度レベルを測定する第2工程と、あらかじめ指定された検査対象範囲(検査枠)における輝度レベルを計算する第3工程と、第3工程にて算出された輝度レベルをもとに、画面内の検査対象範囲以外の部分において、同程度レベルの部分を抽出する第4工程と、第4工程で得られた部分に対して、あらかじめ指定された寸法の高さ測定のための基準点(領域)を設定する第5工程とを有し、半田印刷検査における検査プログラム作成時に、印刷前のプリント基板を用い、検査対象範囲内の部品パッド部分に対して検査枠を設定することにより、分割された各検査画面内における高さ測定基準点を自動的に設定することを特徴とする半田印刷検査方法。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 3/34
