特許

J-GLOBAL ID：200903010651855218

数学的に表現される3次元表面の測定用システム

発明者： ロベルト マイオツコ ,  カテリーナ カツソリーノ ,  グツリエルモ ラーオ
出願人/特許権者： デイエア ソシエタ ペル アチオニ
代理人 (1件)： 田中 浩 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-040264
公開番号（公開出願番号）：特開平6-026825
出願日： 1992年01月29日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】【構成】 3次元表面の測定を行なう3次元空間を限定する測定機(5)と、それに可変位的に可回動的に支持されていて被測定表面の映像を生成するTVカメラ(10)と、映像プロセッサ(16)と、ステレオプロセッサ(17)とより成る。映像プロセッサ(16)は、被測定表面上に描かれた強いコントラストを呈する線を、TVカメラ(10)から得られる異なる2つの映像から捜し出し、次に、ステレオプロセッサ(17)が2つの映像中の点の相互関係、これらの点の3次元座標の計算、これらの点を通る曲線と上記表面の方程式の計算をする。【効果】 被測定表面をそこに描かれる強いコントラストの線でフレーミングし、その線をTVカメラで読取り、更に処理することにより、カメラを測定空間内で自由に移動可能とし、測定が容易となる。

請求項（抜粋）：

数学的に表現される3次元表面を測定するためのシステムであって:3次元表面測定のための3次元空間を画定する測定機と;被測定3次元表面の映像を発生させるように構成された光学手段であって、上記3次元空間内で変位可能にかつ方向決定可能に上記測定機に支持された手段と;上記光学手段に接続されかつ被測定表面の点の座標を決定するようにされた処理手段と;を有することを特徴とするシステム。