特許

J-GLOBAL ID：200903010663523750

ビーム測定装置、ビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法

発明者： 冨澤 宏光
出願人/特許権者： 財団法人高輝度光科学研究センター
代理人 (1件)： 家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-133046
公開番号（公開出願番号）：特開2008-288087
出願日： 2007年05月18日
公開日（公表日）： 2008年11月27日
要約：

【課題】 量子ビームの3次元的な測定を簡便に行うことができるビーム測定装置、及びビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法を提供する。【解決手段】 本発明の一態様にかかるビーム測定装置100は、レーザ発振器11によって発振したパルスレーザ光の波長が時間に応じて変化するよう、パルスレーザ光のパルス波形を整形して出射する光源部10と、光源部10から出射したパルスレーザ光に対して入射位置に応じた時間遅延を与える遅延素子23と、パルスレーザ光を入射位置に応じて異なる偏光状態に変換する偏光変換素子24と、を有する入射光学系20と、入射位置に応じて異なる結晶軸を有する電気光学素子30と、パルスレーザ光から所定の偏光成分を取り出す偏光子46と、偏光子46で取り出されたパルスレーザ光のスペクトルを測定する分光測定器50と、を備えるものである。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

パルスレーザ光を用いて量子ビームを3次元的に測定するビーム測定装置であって、 レーザ発振器によって発振したパルスレーザ光の波長が時間に応じて変化するよう、前記パルスレーザ光のパルス波形を整形して出射する光源部と、 前記光源部から出射したパルスレーザ光に対して入射位置に応じた時間遅延を与える第1の遅延素子と、前記パルスレーザ光を入射位置に応じて異なる偏光状態に変換する第1の偏光変換素子と、を有する入射光学系と、 前記量子ビームのビーム径路に配置され、入射位置に応じて異なる結晶軸を有する電気光学素子と、 前記入射光学系から前記電気光学素子を介して入射したパルスレーザ光から、所定の偏光成分を取り出す偏光子と、 前記偏光子で取り出されたパルスレーザ光のスペクトルを測定する測定器と、を備えるビーム測定装置。

IPC (5件)：

H05H 13/04 ,  G01J 4/00 ,  G01T 1/29 ,  G01N 21/21 ,  G01J 1/02

FI (5件)：

H05H13/04 R ,  G01J4/00 ,  G01T1/29 A ,  G01N21/21 A ,  G01J1/02 L

Fターム (27件)：

2G059AA05 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04 ,  2G065AA04 ,  2G065AA11 ,  2G065AA12 ,  2G065AB09 ,  2G065AB14 ,  2G065BA01 ,  2G065BA33 ,  2G065BB31 ,  2G065BB32 ,  2G065BB39 ,  2G085AA13 ,  2G085CA20 ,  2G085CA27 ,  2G088FF12 ,  2G088FF14 ,  2G088GG25 ,  2G088GG30 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK33

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭61-288125
  
• ビーム位置検出モニター
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-060209   出願人：川崎重工業株式会社