特許

J-GLOBAL ID：200903010695533129

光走査型二次元pH分布測定装置の校正方法

発明者： 冨田 勝彦 ,  高松 修司 ,  中西 剛 ,  田辺 裕貴
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-141067
公開番号（公開出願番号）：特開平9-049822
出願日： 1996年05月10日
公開日（公表日）： 1997年02月18日
要約：

【要約】【課題】 幅広いpH範囲で同時に校正を行うことができ、しかも再現性よく高精度な測定を可能とする光走査型二次元pH分布測定装置の校正方法を提供すること。【解決手段】 等電点電気泳動用ゲルを校正用ゲル21として光走査型二次元pH分布測定装置の平面的なセンサ面7に当接させることにより校正を行うようにした。

請求項（抜粋）：

等電点電気泳動用ゲルを校正用ゲルとして光走査型二次元pH分布測定装置の平面的なセンサ面に当接させることにより校正を行うようにしたことを特徴とする光走査型二次元pH分布測定装置の校正方法。

IPC (4件)：

G01N 27/26 381 ,  G01N 21/17 ,  G01N 27/447 ,  G01N 27/416

FI (4件)：

G01N 27/26 381 D ,  G01N 21/17 D ,  G01N 27/26 315 Z ,  G01N 27/46 U