特許
J-GLOBAL ID：200903010720503884
外観検査方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-284491
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108636
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：
【要約】【課題】 画像解析を行うことなく、簡単な構成のもとに素早く被検査物品の欠陥の有無を検査することのできる低コストで実用的な外観検査装置を提供する。【解決手段】 外形が円形または多角形等の略円形をした被検査物品Wの外周面を斜面1aに当接させて自重により転がせながら、照明灯2からの光を照射し、被検査物品Wにより反射もしくは散乱された光を光センサ3で受光するとともに、その光センサ3の出力を比較手段5により基準電圧と比較することにより、被検査物品Wに存在する欠陥による光の散乱もしくは吸収を検知して、欠陥の存在の有無を検査する。物品Wを転がすことにより、欠陥は並進しつつ上下動するから、視野の狭い光センサを用いても確実に欠陥による光の散乱もしくは吸収を検知することが可能となる。
請求項（抜粋）：
外形が円形もしくは多角形等の略円形をして転動可能な物品の表面もしくは内部の欠陥の有無を検査する方法であって、被検査物品の外周面を斜面に当接させて自重により転がせつつ光を照射し、その被検査物品の表面もしくは内部に存在する欠陥による光の散乱もしくは吸収を、所定位置に固定された光センサで検出することにより欠陥の有無を検査することを特徴とする外観検査方法。
Fターム (10件)：
2G051AA82
, 2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AB07
, 2G051CA03
, 2G051CB01
, 2G051CB05
, 2G051DA08
, 2G051DA13
, 2G051EB01
