電気光学装置および電子機器

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：上柳雅誉 , 藤綱英吉 , 須澤修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-237081
公開番号（公開出願番号）：特開2006-058337
出願日： 2004年08月17日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：

【課題】検査に専用される接続端子の個数を削減する。【解決手段】電気光学装置D1は、複数の走査線11と複数のデータ線13との各交差に配置された画素回路15を有する。素子基板上には制御信号が入力される接続端子61が形成されている。走査線駆動回路20は、複数の走査線11のうち接続端子61に入力されたアドレス信号ADRに応じた走査線11に走査信号Yを供給する。検査回路40は、複数のデータ線13のうち接続端子61に入力されたアドレス信号ADRに応じたデータ線13を検査用出力端子74に導通させる。すなわち、走査線駆動回路20を動作させるためのアドレス信号ADRが入力される接続端子61は、検査回路40を動作させるためのアドレス信号ADRが入力される端子として兼用される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1の方向に延在する複数の第1配線と、前記第1の方向とは異なる第2の方向に延在する複数の第2配線との各交差に対応して画素が配置された電気光学装置において、制御信号が入力される接続端子と、前記複数の第1配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第1配線に駆動信号を供給する駆動手段と、前記複数の第2配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第2配線を検査用出力端子に導通させる検査手段とを具備することを特徴とする電気光学装置。

IPC (6件)：

G09G 3/36 , G01R 31/00 , G02F 1/13 , G02F 1/133 , G02F 1/134 , G09G 3/20

FI (9件)：

G09G3/36 , G01R31/00 , G02F1/13 101 , G02F1/133 550 , G02F1/1345 , G09G3/20 612R , G09G3/20 623A , G09G3/20 623R , G09G3/20 670Q

Fターム (61件)：

2G036AA19 , 2G036AA27 , 2G036BA33 , 2G036BB12 , 2G036CA10 , 2H088FA11 , 2H088FA18 , 2H088MA16 , 2H088MA20 , 2H092GA40 , 2H092GA45 , 2H092JA24 , 2H092JB77 , 2H092MA56 , 2H092NA30 , 2H093NC02 , 2H093NC09 , 2H093NC18 , 2H093NC22 , 2H093NC34 , 2H093NC52 , 2H093ND54 , 2H093ND56 , 2H093NE07 , 5C006AA22 , 5C006AC11 , 5C006AC24 , 5C006AC26 , 5C006AF24 , 5C006AF25 , 5C006AF42 , 5C006AF43 , 5C006AF51 , 5C006AF53 , 5C006AF59 , 5C006AF65 , 5C006AF71 , 5C006AF78 , 5C006BB15 , 5C006BC12 , 5C006BC16 , 5C006BC20 , 5C006BF03 , 5C006BF27 , 5C006EB01 , 5C006FA20 , 5C006FA22 , 5C006FA51 , 5C080AA10 , 5C080BB05 , 5C080CC03 , 5C080DD15 , 5C080DD28 , 5C080EE29 , 5C080EE30 , 5C080FF11 , 5C080GG02 , 5C080JJ02 , 5C080JJ03 , 5C080KK02 , 5C080KK47

引用特許：

出願人引用 (1件)

アクティブマトリクスパネル
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-111323 出願人：セイコーエプソン株式会社

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