特許

J-GLOBAL ID：200903010723562636

回路基板の原点検出方法及び装置

発明者： 山本 洋紀
出願人/特許権者： 山武ハネウエル株式会社
代理人 (1件)： 堀 進 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-277349
公開番号（公開出願番号）：特開平7-091914
出願日： 1993年09月22日
公開日（公表日）： 1995年04月07日
要約：

【要約】【目的】 原点マークが印刷されていない基板についても適用可能で、ノイズに強く基板原点を正確に検出できる方法と、それを実施すするための装置を提供する。【構成】 スルーホールを有する回路基板を撮像し、得られた画像の明るさを微分することにより当該画像を構成する各画素のグラジエントを算出し、グラジエントの大きさによって画像を2値化し、2値化された画像に対して円ハフ変換を適用することにより、スルーホールの中心を基板原点として検出する。

請求項（抜粋）：

スルーホールを有する回路基板を撮像し、得られた画像の明るさを微分することにより該画像を構成する各画素のグラジエントを算出し、該グラジエントの大きさによって前記画像を2値化し、2値化された画像に対して円ハフ変換を行うことにより、前記回路基板のスルーホールの中心を基板原点として検出することを特徴とする、回路基板の原点検出方法。

IPC (5件)：

G01B 11/00 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60 ,  H01L 21/66 ,  H05K 13/04

FI (2件)：

G06F 15/62 405 A ,  G06F 15/70 360