特許
J-GLOBAL ID：200903010728541386
湿式蛍光磁粉探傷法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
安田 敏雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-053277
公開番号（公開出願番号）：特開2000-249688
出願日： 1999年03月01日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：
【要約】【課題】 光源による正反射光をカメラ視野から外し易しくて、被検査材表面の照度ムラを小さくし、かつカメラ視野内の照度を上げ、シェーディング補正を要することなく検査精度の向上を図る。【解決手段】 搬送中の被検査材1を磁化しながら表面に磁粉液を付着させ、照射光源2により欠陥部に発生する漏洩束部に凝集する磁粉を発光させ、ラインセンサカメラ3で撮影した画像データを処理することにより、被検査材1表面の結果を検出する湿式蛍光磁粉探傷法であって、前記カメラ3をそのスキャン方向Sが被検査材1の搬送方向Tと直交すると共に被検査材1表面に対して垂直となるように配し、前記光源2をカメラスキャン方向Sと平行でかつ被検査材1表面に対して前記カメラ3の受光面内に正反射光5が入らない角度θに傾斜させる。
請求項（抜粋）：
搬送中の被検査材を磁化しながらその表面に磁粉液を付着させ、照射光源により被検査材表面欠陥部に発生する漏洩磁束部に凝集する磁粉を発光させ、ラインセンサカメラで撮影した画像データを処理することにより、被検査材表面の欠陥を検出する湿式蛍光磁粉探傷法であって、前記ラインセンサカメラをそのスキャン方向が被検査材搬送方向と直交すると共に被検査材表面に対して垂直となるように配し、前記光源を前記カメラのスキャン方向と平行でかつ被検査材表面に対して前記カメラの受光面内に正反射光が入らない角度に傾斜させることを特徴とする湿式蛍光磁粉探傷法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/84
, G01N 21/91 B
2G051AA37
, 2G051AB02
, 2G051BB01
, 2G051CA03
, 2G051CA06
, 2G051GC03
, 2G051GC17
, 2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BB03
, 2G053DC18
, 2G053DC19
