特許

J-GLOBAL ID：200903010746676477

光検査用基板及びそれを用いた光検査方法並びに光モジュール

発明者： 竹村 浩二 ,  作島 史朗
出願人/特許権者： 京セラ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-211628
公開番号（公開出願番号）：特開2002-026437
出願日： 2000年07月12日
公開日（公表日）： 2002年01月25日
要約：

【要約】【課題】 高速モジュールにも適用可能な光検査用基板及びそれを用いた光検査方法、並びに光素子が搭載された光モジュールを提供すること。【解決手段】 発光素子及び該発光素子の出射光を受光する受光素子が配設される複数の光素子搭載領域を有する基板11と、基板11上の複数域に形成された絶縁体層12,13と、発光素子の電極端子に接続される信号線15及び接地線16と、受光素子の電極端子に接続される信号線17及び接地線18と、を備えるとともに、発光素子の信号線15と受光素子の信号線17とが、各々分離された絶縁体層12,13上に配設され、かつ発光素子及び受光素子の少なくとも一方の光素子の接地線が、該光素子の信号線の片側または両側に配設されている光検査用基板P1とする。

請求項（抜粋）：

発光素子及び該発光素子の出射光を受光する受光素子が配設される複数の光素子搭載領域を有する基板と、該基板上の複数域に形成された絶縁体層と、前記発光素子の電極端子に接続される信号線及び接地線と、前記受光素子の電極端子に接続される信号線及び接地線と、を備えるとともに、前記発光素子の信号線と前記受光素子の信号線とが、各々分離された絶縁体層上に配設され、かつ前記発光素子及び前記受光素子の少なくとも一方の光素子の接地線が、該光素子の信号線の片側または両側に配設されていることを特徴とする光検査用基板。

IPC (6件)：

H01S 5/00 ,  G02B 6/42 ,  H01L 31/0232 ,  H01L 31/02 ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/026

FI (6件)：

H01S 5/00 ,  G02B 6/42 ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/026 ,  H01L 31/02 D ,  H01L 31/02 Z

Fターム (22件)：

2H037AA01 ,  2H037BA02 ,  2H037BA11 ,  2H037DA03 ,  2H037DA04 ,  2H037DA06 ,  2H037DA18 ,  2H037DA22 ,  5F073BA01 ,  5F073EA28 ,  5F073FA06 ,  5F073HA02 ,  5F073HA06 ,  5F073HA09 ,  5F073HA11 ,  5F088AA01 ,  5F088BA18 ,  5F088BA20 ,  5F088BB01 ,  5F088JA03 ,  5F088JA11 ,  5F088JA20