特許
J-GLOBAL ID：200903010761887905
コンデンサの試験方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-131055
公開番号（公開出願番号）：特開平7-320993
出願日： 1994年05月20日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：
【要約】【目的】 多数のコンデンサの製造品の中から不良品を容易かつ確実に選別し除去できるような、優れたコンデンサの試験方法を提供する。【構成】 CPU3により、直流定電流定電圧電源2を制御して、一定のパルス印加条件の下で、試料コンデンサ10に直流定電流過電圧パルスを印加させる。一定の印加検出時間Tの間、挙動電圧検出回路6により試料コンデンサ10に印加される矩形波パルス電圧値をモニターすると同時に、モニターされた矩形波パルス電圧値の挙動電圧値と予め設定された挙動電圧リミット値とを比較する。挙動電圧検出回路6は、モニターされた矩形波パルス電圧値の挙動電圧値が、挙動電圧リミット値を越える値を示す場合には、異常検出信号を出力してCPU3に送る。
請求項（抜粋）：
コンデンサに直流電流電圧を印加してコンデンサ内部の異常の有無を検出するコンデンサの試験方法において、試料となるコンデンサの定格電圧値以上の直流定電流過電圧のパルスをコンデンサに供給して、このパルスの供給開始から終了までの間にコンデンサに印加されるパルス電圧値をモニターし、モニターされたパルス電圧値に基づいてコンデンサ内部の異常を検出することを特徴とするコンデンサの試験方法。
IPC (2件)：
H01G 13/00 361
, G01R 31/00
